武隆供应德律泰二手ICT操作流程

求购以下测试设备： 德律泰：TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡：agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收， 不管设备好坏，闲置，需要处理.

安捷伦科技有限公司是一家多元化的高科技跨国公司，它于1999年从惠普研发有限合伙公司中分离出来，主要致力于通讯和生命科学两个领域内产品的研制开发、生产销售和技术服务等工作。主要通过的方式销售产品，但也同时通过分销商、转销商、制造商代表
ICT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 是一种元器件级的测试方法用来测试装配后的电路板上的每个元器件
飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。
针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。

泰瑞达：Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya测试飞针：APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上设备整机板卡配件都回收： 安捷伦Agilent3070板卡.
ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出
测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，
以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技
术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
4.能够将测试不良资讯统计，生产管理人员加以
分析，可以找出各种不良的产生原因，包括人为
的因素在内，使之各个解决、完善、指正，藉以
提升电路板制造及品质能力。
正是由于ICT以上功能所带给客户的效益，
才有今天ICT得已广泛运用的现实！
1．产量增加：ICT在线测试仪的检测速度非常快，
如300个元件的线路板约3秒钟全部检测，比人工
检测时间大大缩短，产量可大大提高。
2．降低成本：
A.使维修工作简单化,维修速度加快,减少维
修人员，降低维修成本,
B.降低因误判而损坏的元件成本，
C.减少维修备品库存!
3．使产品一次良品率提高：提供大量的统计数据，
以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

Keysight i3070 系列 6 系统提供了一个新的模拟激励和响应单元（ASRU）卡，其中包含新的数字测量电路（DMC），能够为系统提供额外的特性和提高系统模拟测试速度（可达到总模拟测试时间的20％）。
Keysight i3070 系列 6 系统可以满足这一需求。系列 6 ICT 系统采用成熟的技术精心设计，测试效率相比以前的产品大大提升。系列 6 包含久经考验的软件、硬件和编程功能，完全兼容以前的系统，并且可以执行高度可重复的测量。系列 6 ICT 还提供新的基础架构，能够允许制造商更轻松地并入外部电路以提高测试覆盖率，同时改善对外部电路的控制。深圳市木士电子有限公司二手ICT测试仪
销售，回收、租赁各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、 TRI5001E、TRI8100LV、Keysighti3070、agilent i1000D、泰瑞达Teradyne TS
提供工厂ICT测试技术支持，的团队、质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。