东莞从事二手德律TR-5001E怎么样,TR-5001E

TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。

◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易

◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC

◆ 保护二极体之测试程式

◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向

◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式

◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据

◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能

◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修

◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高

◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点

◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好

◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题

◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题

◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%

◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测

◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感

◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题

◆ 具Pin Contact检查功能

工作电压：220V
配置：标配（320点）
成色：二手九成新
JET-300在线测试机（IN CIRCUIT TESTER）是经由量测电路板上所有零件，包括电阻、电容、电感、二极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等，检测出电路板产品的各种缺点诸如：线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等，并明确地指出缺点的所在位置，帮助使用者确保产品的品质，并提高不良品检修效率。它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器（REED RELAY），是当今测试涵盖率*高，测试*稳定，使用*方便，提供资料*的在线测试机。
系统性能
JET-300在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如 : 线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等, 并明确地指出缺点的所在位置, 帮助使用者确保产品的品质, 并提高不良品检修效率. 它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY), 是当今测试涵盖率**, 测试稳定, 使用方便, 提供资料的在线测试机.

以下是JET-300的产品特性
硬体规格
REED RELAY的扫描板

JET300的扫描板採用了可二亿次的REED RELAY，解决了ICT 扫描板容易损坏的问题, 由于REED RELAY 的应用，使JET-300在性能上大有改善。诸如：
1.Zener diode 测试电压可达50v，所有测试点皆可使用。
2.小电容和小电感量测较准确和稳定，较不受温度的影响。
3.电容极性的可侦测率较用CMOS RELAY时大为提高。
4.可耐高压又有残存电压侦测功能，扫描板受到充分的保护。
5.配置功能测试的可行性较高。

宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。

三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。

软体系统　
JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。

差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。